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Iontof

Instrumentos para análise de superfície com diferentes linhas de produtos de TOF-SIMS (Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometers) a LEIS (high-sensitivity Low-Energy Ion Scattering). TOF-SIMS com Canhão de íons otimizado, preparação de amostras e acessórios especiais. Modelos para as áreas indústrial, pesquisa, semicondutores. Configurações especiais com câmaras de preparação de amostras e combinações com outras técnicas analíticas. O Qtac é o mais sensível instrumento de espalhamento de íons de baixa energia (LEIS) (3000X maior que um LEIS convencional), proporcionando caracterização elementar e estrutural da camada atômica superior, perfeita para estudar os processos de superfície. O Qtac fornece informações valiosas na produção de muitas áreas de pesquisa como catalisadores, semicondutores, metais, polímeros, células de combustível e biomateriais.

A IONTOF fabrica instrumentos inovadores para análise de superfície com diferentes linhas de produtos para ToF-SIMS (Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometers) e LEIS (Low-Energy Ion Scattering). O ToF-SIMS 5 é um sistema flexível e de alta precisão que permite a análise de praticamente todos os tipos de amostras, tornando-o a ferramenta SIMS mais flexível no