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TÉCNICAS

Análise de Superfície (ToF-SIMS)

A IONTOF fabrica instrumentos inovadores para análise de superfície com diferentes linhas de produtos para ToF-SIMS (Time-Of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometers) e LEIS (Low-Energy Ion Scattering). O ToF-SIMS 5 é um sistema flexível e de alta precisão que permite a análise de praticamente todos os tipos de amostras, tornando-o a ferramenta SIMS mais flexível no