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Inel

Instrumentos de Raios X de bancada e processo para indústrias e centros de pesquisa, como Difratômetros de Raios X, Geradores de Raios X, Detectores, Sistemas Óticos com Raios X e outros. Possui exclusivo Detector Curvado Patenteado (Detector BANANA) que elimina a necessidade de goniômetros de varredura convencional, medindo simultaneamente os picos de difração e gerando resultados em segundos. Robusto e versátil, permite Medidas Estáticas de Pós, Análise Quantitativa e Qualitativa, Identificação de Fase, Dimensão de Cristalinidade, Transição de Fase, Medidas de Atmosfera e Temperatura Variáveis, Medidas de Filmes Finos e Reflectometria, Espessura de Camada, Medidas de Rugosidade, Medidas de Densidade e Difusão, além de Medidas de Tensão e Textura, Determinação de ODF, Orientação dos Cristais e Medidas de Tensão Residual.

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