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TOF-SIMS 5 – Análise de Superfície quantificação e qualificação com imagem 3D.

TOF-SIMS é um acrônimo para a combinação das técnicas analíticas, Secondary Ion Mass Spectrometry  (SIMS)  com a analise de massa   time-of-flight (TOF) resultando em Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS).

Time-of-Flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) é uma técnica analítica muito sensível para analise de superfície que fornece informação elementar e molecular detalhada sobre a superfície, camadas finas, interfaces da amostra, e proporciona uma análise tridimensional da área analisada. A utilização está disseminada, incluindo semicondutores, polímeros, tintas, revestimentos, vidro, papel, metais, cerâmicas, biomateriais, produtos farmacêuticos e tecidos orgânicos. O TOF.SIMS 5 é a última geração de high-end TOF-SIMS instrumentos desenvolvidos ao longo dos últimos 25 anos.

Em diferentes modos de operação – espectroscopia de superfície, imagens de superfície, criação de perfis de profundidade,  Análise 3D – esta técnica de análise oferece características únicas:

Informação Obtida:

Detecção de todos os elementos e isótopos;

•Informação química, molecular  e agrupamento de íons.

Limites de Detecção:

•Ppm em monocamada de elementos;

•Sub-fmol em moléculas.

Localização espacial:

•Resolução lateral elevada (<60 nm);

•Sensibilidade de superfície elevada (<1 nm);

•Resolução de profundidade elevada (<1 nm).

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