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SU-9000

O SU9000 é novo MEV-FEG Premium da HITACHI. Ele apresenta uma óptica de electrons únicos, com a amostra posicionada no interior de uma abertura da lente objectiva. Este sistema é chamado de Verdadeiro Conceito – Combinado com a nova geração de tecnologia de Emissão de Campo a Frio HITACHI – garante a melhor resolução possível do sistema (SE resolução 0,4 Nm @ 30kV, 1.2Nm @ 1kV sem necessidade de tecnologia desaceleração do feixe) e estabilidade.

Melhor resolução do mundo SE a 30kV: 0,4 Nm a 30kV GARANTIDOS;
Resolução STEM 0.34nm GARANTIDOS, permite a observação de grafite C (002);
1.2Nm SE resolução em 1kV GARANTIDOS sem necessidade de tecnologia desaceleração do feixe. Isso garante rápidos resultados como em qualquer geometria da amostra pode ser observados com facilidade
Ampliação utilizável até 3.000.000 vezes
Sistema Patenteado Hitachi Super “ExB” Modo de Sinal em combinação com 2 detectores através das lentes permite ao operador optimizar o sinal BSE e SE da imagem.
Novo detector Duo-STEM  BF/DF ((Bright Field and Dark Field) Campo Claro e Campo Escuro) permite a exibição simultânea de imagens em BF e DF. Ângulo de detecção variável no DF modo STEM (opcional).
Possibilidade de exibição simultânea de 4 Sinais no Display (SE + BSE, BF + DF STEM).
A Nova geração do Canhão de Eletrons com emissão de campo a frio fornece 2x maior estabilidade sonda.
Electron design óptico permite EDS análise e imagem sem mudar de posição espécime.
Porta Amostras compatíveis para FIB para imagem perfeita de preparação específicas (opcional).
Compatibilidade com suporte de Seção transversal de amostra para Hitachi IM4000 feixe de íons secção polidor (opcional)
Observação Criogênica, com crio suporte de amostra (opcional)

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