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SU-6600

FE-SEM ANALITICO COM PRESSÃO VARIÁVEL DE MÁXIMA VERSATILIDADE

A Hitachi desenvolveu o SU6600 Schottky MEV-FEG Analitico com Emissão de Campo para atender a crescente demanda da microscopia analítica de alta resolução. Ele utiliza avançadas tecnologias de pressão variável (VP) e um Sistema de Fonte de Eletrons de Emissão de Campo Schottky melhorado que fornece imagens excepcionais, com grande estabilidade.

Permite instalação de diversos Detectores EDX, WDX e EBSP, além de imagens de alta resolução e caracterização de materiais.

O modo VP permite ao operador mudar as condições de vácuo na câmara de amostra de alto vácuo (.10.4 Pa) para baixo vácuo (10.300Pa) em uma operação com um único clique do mouse.

O SU6600 proporciona imagens incomparáveis e Analise EDX e EBSP de amostras sem a necessidade de preparações como recobrimento metálico ou de técnicas especiais de aterramento.
O SU6600 é um novo e versátil FEG-MEV para uma gama diversificada de aplicações incluindo Imagens e Análises de materiais avançados que se tornam cada vez mais importantes.

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