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MODELO SU8000 SERIES (SU8010 – SU8020 – SU8030 – SU8040).

FE-SEM DE ALTO DESEMPENHO COM SISTEMA “COLD FIELD EMISSION” PARA NANOTECNOLOGIA.

A família SU8000 na faixa “ULTRA-HIGH PERFORMANCE” da HITACHI, semi-in-lens SEM com fonte fria de emissão de campo (Cold Field Emission Source). Ele vem em resposta a uma crescente demanda do mercado por soluções flexíveis para as necessidades de aplicação e orçamento.

Montado em uma plataforma ótica-eletrônica, comum em toda a família SU8000 que pode alcançar uma impressionante resolução de imagem em ultra-baixa voltagem, apenas 1.3nm em 1.0kV, a HITACHI utiliza detectores inovadores para otimizar o desempenho de imagem, incluindo a mais recente geração patenteada da Hitachi “E x B In-Lens” detecção por filtragem de energia, supressão de carga e controle de contraste.

A Tecnologia “Cold Field Emission” da Hitachi e a óptica de condensador duplo garantem não só a mais alta resolução, mas também o controle total sobre as correntes de sonda de 1pA a mais de 5nA – ideal para ambos, a observação de até mesmo os espécimes mais sensíveis, mas também para Análise Elementar (EDX), onde com os detectores SDD de hoje, facilmente vai conseguir mais de 10000 contagens por segundo.

Os modelos da família SU8000 oferecem uma variedade de estágios, câmara de amostra e configurações de sinal de detecção do sistema para atender a ampla gama de necessidades específicas do cliente para a microscopia de ultra-alta resolução indispensável nas áreas de nanotecnologia, tais como semicondutores, eletrônica, catálise e outros materiais, biotecnologia e produtos farmacêuticos, etc.

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